OLED display device의 Line Defect 시험법에 관한 연구 A Study on OLED display device's line defect test methode
최영태, 조재립
- 언어KOR
- URLhttp://db.koreascholar.com/Article/Detail/369117
대한안전경영과학회 학술대회
2009년도 대한안전경영과학회 춘계학술대회
(2009.04)
pp.523-529
pp.523-529
대한안전경영과학회
(Korea Safety Management & Science)
초록
The ACF(Anisotropic Conductive Film) is used for bonding Drive IC and OLED display device panel. If ACF bonding process is problem, a malfunction of line defect can occur. Because electric resistance increase between the panel and drive IC after a period of time, drive IC can not supply enough current to the panel. This paper is studied on a method of test for line defect.
목차
Abstract
1. 서론
1.1 연구의 목적
1.2 연구방법 및 범위
2. 이론적 배경
2.1 COG용 ACF
2.2 OLED Display Device의 고장
2.3 COG 본딩의 고장 모드/메카니즘
2.4 고장 스트레스
3. 실험방법
4. 실험 결과 및 검증
5. 결론
6. 참고문헌
1. 서론
1.1 연구의 목적
1.2 연구방법 및 범위
2. 이론적 배경
2.1 COG용 ACF
2.2 OLED Display Device의 고장
2.3 COG 본딩의 고장 모드/메카니즘
2.4 고장 스트레스
3. 실험방법
4. 실험 결과 및 검증
5. 결론
6. 참고문헌
저자