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초록
To application Arrhenius model for OLED's lifetime, it's needed in high temperature test. Because OLED's character is changed in high temperature, it's important to find limit temperature. We found out 40℃ is proper temperature by result of tests. But that is not enough acceleration to apply in practical affairs. We find new stress to get a bigger accelerated constant.
목차
Abstract
1. 서론
2. 가속수명시험 이론
2.1. 가속수명 시험의 종류
2.2. Accelerated Degradation
2.3. 가속수명-스트레스 모형
2.4. 가속성과 가속계수
3. OLED 소자의 열화 스트레스
3.1. Lifetime
3.2. degradation
3.3. 가속스트레스 발굴
4. 실험 및 결과
5. 수명 예측 및 가속모형 추정
6. 결론 및 과제
7. 참고문헌
1. 서론
2. 가속수명시험 이론
2.1. 가속수명 시험의 종류
2.2. Accelerated Degradation
2.3. 가속수명-스트레스 모형
2.4. 가속성과 가속계수
3. OLED 소자의 열화 스트레스
3.1. Lifetime
3.2. degradation
3.3. 가속스트레스 발굴
4. 실험 및 결과
5. 수명 예측 및 가속모형 추정
6. 결론 및 과제
7. 참고문헌
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