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110mAg 간섭으로부터 137Cs 정량평가를 위한 드럼핵종분석 교정기술 KCI 등재 SCOPUS

Calibration Method of the Tomographic Gamma Scan Techniques Available for Accurately Characterizing 137Cs from 110mAg Interference

  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/327506
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방사성폐기물학회지 (Journal of the Korean Radioactive Waste Society)
한국방사성폐기물학회 (Korean Radioactive Waste Society)
초록

TGS(Tomographic Gamma Scan)분석 기술은 방사성폐기물 드럼을 10×10×16개의 단위부피로 분할하여 분할단위 마다 밀 도 및 방사능 농도를 각각 측정하기 때문에 기존 기술에 비해 높은 분석정확도를 갖는 장점에 비하여 낮은 정밀도를 갖는 단 점이 있다. 이를 보완하기 위해 하나의 에너지를 구별하는 전흡수피크(Full Energy Peak)의 범위(ROI : Region of Interest) 를 넓게 설정하여 정밀도를 최적화한다. 하지만 전흡수피크의 범위 증가는 인접한 에너지를 방출하는 핵종간 상호간섭이 발 생할 확률이 높아진다. 본 연구에서는 TGS분석에서 기준 핵종인 137Cs(661.66 keV 반감기 30.5 년) 정량분석에 간섭을 일으 키는 원인을 규명하였으며 그 원인으로 인접한 110mAg(657.75 keV 반감기 249.76 일)임을 확인하였다. 이러한 간섭을 제거 할 수 있는 방안으로 최적화된 ROI를 결정할 수 있는 새로운 교정기술을 개발하였으며 본 교정기술을 적용 후 정확도 검사 에서 기준핵종 137Cs을 정확히 판정함을 확인하였다.

The Tomographic Gamma Scan (TGS) technique partitions radioactive waste drums into 10x10x16 voxels and assays both the density and concentration of radioactivity for each voxel thus providing for improved accuracy, when compared to the traditional Non-Destructive Assay(NDA) techniques. It could decrease the degree of precision measurement since there is a trade-off between spatial resolution and precision. This latter drawback is compensated by expanding the Region of Interest (ROI) that differentiates the full energy peaks, which, in turn, results in an optimized degree of precision. The enlarged ROI, however, increases the probability of interference among those nuclides that emit energies in the adjacent spectrum. This study has identified the cause of such interference for the reference nuclide of the TGS technique, 137Cs (661.66 keV, halflife 30.5 years), to be 110mAg (657.75 keV, half-life 249.76 days). A new calibration method of determining the optimized ROI was developed, and its effectiveness in accurately characterizing 137Cs and eliminating the interference was further ascertained.

저자
  • 정성엽 | Sung Yeop Jeong Corresponding author