In this study, surface roughness and interfacial defect characteristics were analyzed after forming a high-k oxide film on the surface of a prime wafer and a test wafer, to study the possibility of improving the quality of the test wafer. As a result of checking the roughness, the deviation in the test after raising the oxide film was 0.1 nm, which was twice as large as that of the Prime. As a result of current-voltage analysis, Prime after PMA was 1.07 × 10 A/cm2 and Test was 5.61 × 10 A/cm2, which was about 5 times lower than Prime. As a result of analyzing the defects inside the oxide film using the capacitancevoltage characteristic, before PMA Prime showed a higher electrical defect of 0.85 × 1012 cm2 in slow state density and 0.41 × 1013 cm2 in fixed oxide charge. However, after PMA, it was confirmed that Prime had a lower defect of 4.79 × 1011 cm2 in slow state density and 1.33 × 1012 cm2 in fixed oxide charge. The above results confirm the difference in surface roughness and defects between the Test and Prime wafer.

2008년 이래 시작된 미국의 서브프라임 모기지(비우량담보대출) 위기로 인한 글로벌 쓰나미는 전세계 가 80년대 중반 이래 고속 성장하던 상승세를 멈추고 2009년 마이너스 성장을 기록했다. 이번 위기에 대응하기 위해 각국은 위기로 인한 충격에 대응해 경기회복을 위한 조취를 취하고 있다. 본문의 연구는 한국과 일본에 초점을 맞췄다. 한국과 일본이 서브프라임 모기지 사태속에서 받은 영향을 분석해 양국의 경제정책을 비교 연구한 결과 아래와 같은 결론이 나왔다. 첫째, 2008년 미국 서브프라임 모기지의 근본원인 미국의 통화정책이 너무 느슨해 미국 금융시스템이 부실하고 특히 헤지펀드에 대한 감시가 없다는데 있다. 둘째, 한국은 1997년 아시아금융위기 당시 자국의 금융체제의 개혁 덕분에 2008년 서브프라임 모기지 사태 때 일본보다 국내 경제에 미치는 영향이 적었다. 셋째, 2008년 미국의 서브프라임 모기지 위기 대응 정책에서 일본의 경제 정책은 보다 세밀하고 구체적이지만, 심층적인 문제는 해결되지 않았다.