다수 측정 위치를 갖는 단일 공정의 공정능력지수

이도경; 이현석

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다수 측정 위치를 갖는 단일 공정의 공정능력지수 KCI 등재

Process capability index for single process with multiple measurement locations

이도경, 이현석

언어KOR
URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/22446

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한국산업경영시스템학회지 (Journal of Society of Korea Industrial and Systems Engineering)

Vol. 30 No. 3 (2007.09)
pp.28-36

한국산업경영시스템학회 (Society of Korea Industrial and Systems Engineering)

초록

Process Capability indices (PCIs) have been widely used in manufacturing industries to provide a quantitative measure of process performance. PCIs have been developed to represent process capability more exactly. In the previous studies, only one design

키워드

Multiple Measurement LocationsSystem Process Capability

저자

이도경 | Do-Kyung Lee
이현석 | Hyun Seok Lee

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