다수 측정 위치를 갖는 단일 공정의 공정능력지수

이도경; 이현석

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다수 측정 위치를 갖는 단일 공정의 공정능력지수 KCI 등재

Process capability index for single process with multiple measurement locations

이도경, 이현석

언어KOR
URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/22446

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한국산업경영시스템학회지 (Journal of Society of Korea Industrial and Systems Engineering)

Vol. 30 No. 3 (2007.09)
pp.28-36

한국산업경영시스템학회 (Society of Korea Industrial and Systems Engineering)

초록

Process Capability indices (PCIs) have been widely used in manufacturing industries to provide a quantitative measure of process performance. PCIs have been developed to represent process capability more exactly. In the previous studies, only one design

키워드

Multiple Measurement Locations System Process Capability

저자

이도경 | Do-Kyung Lee
이현석 | Hyun Seok Lee

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