논문에서는 전력용반도체 소자의 수명예측으로 기초적인 동작환경과 구동시간들을 기록하였다. 전력변환기의 제어기에 의하여 전력소자의 구동시간과 방렬기의 온도 등 동작환경을 누적하여 기록하고 이를 확인할 수 있도록 하므로써전력용 반도체소자는 그 구조에서 수명은 반도체 칩의 온도변화의 크기와 반복회수로 사용기간을 보증하고 있으므로이에 의한 수명의 예측으로 유지보수 또는 교체가 적절한 시점에서 이루어질 수 있다고 판단된다.

In this paper, the basic behavior of the environment and the driving time as a prediction of the lifetime of the power semiconductor devices were recorded. Radiator of a power device driving time and temperature operating environment, including cumulative record by the controller of the power converter, and doing it so you can see the power semiconductor devices for the life of the structure that the size of the change in the temperature of the semiconductor chip and the number of iterations to maintenance warranty period because of a lifetime by forecasting or replacement can be made at the appropriate time that is considered.

• 조문택(대원대학교 전기전자계열) | Moontaek Cho
• 이충식(대원대학교 전기전자계열) | Chungsik Lee Corresponding Author
• 이상복(남부대학교 방사선학과) | SangBock Lee