Au 내부 표준시편을 이용하여 일반 전자회절도형에서도 알바이트와 올리고클레이스의 격자 상수 값을 1% 이내의 오차범위로 얻었다. 자연산 올리고클레이스 시료의 전자회절도형 지도를 작성하였고, 11개 지점의 정대축 전자회절도형을 얻었다 이러한 작업은 삼사정계민 장석으로부터 신뢰성 있는 전자현미경 연구 결과를 얻기 위해서는 필수적인 과정이다. 장식의 001 벽개면과 TEM의 양측경사 시료지지대를 이용하면 장석의 구조/화학 분석에 필요한 다음과 같은 정보를 획득할 수 있다: 알칼리 장석은 [001] 방향에서 ＊ 값을, [100] 방향에서 α＊ 값을 측정하여 α＊ - ＊ plot을 함으로써 미세 영역에서 Si-Al ordering 상태 및 화학 조성을 예측할 수 있다. Na-rich한 사장석은 [001] 방향에서 ＊ 값을 측정하여 Si-Al ordering 상태를 예측할 수 있다. Na-poor한 사장석은 [100] 방향에서 e-reflection의 유무, 회절강도 및 위치 변화를 측정하여 구조 및 화학을 예측할 수 있다.

Measurements of the lattice parameters of albite and oligoclase from electron diffraction patterns with the Au internal standard resulted in errors of less than 1 %. An electron diffraction map for natural oligoclase samples was constructed and 11 stations of zone-axes diffraction patterns were obtained. This process is indispensible for reliable TEM studies of triclinic feldspars. Utilizing the [001] cleavage plane of feldspar and the double-tilting TEM holder the following information is obtainable: Si-Al ordering and chemistry of alkali feldspars could be estimated from the α＊ - ＊ plot, where ＊ is measured from the [001] orientation, while α＊ is measured from the [100] orientation. Si-Al ordering of Na-rich plagioclase could be estimated from ＊ [001] patterns. Structure and chemistry or Na-poor plagioclase could be estimated from existence of e-reflections, their intensity variations as well as their positional changes.

• 김윤중
• 이영부
• 박병규
• 이정후