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고분해능 전자현미경법을 이용한 (Bi, La)4Ti3O12 박막의 결정학적 특성 평가 KCI 등재 SCOPUS

Crystallographic Characterization of the (Bi, La)4Ti3O12 Film by High-Resolution Electron Microscopy

이덕원, 양준모, 박태수, 김남경, 염승진, 박주철, 이순영, 박성욱
  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/296194
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한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)
제13권 제7호 (2003.07)
pp.478-483
한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)
키워드
ferroelectric RAMhigh-resolution transmission electro microscopyZ-contrast technique00c planesubstitution of La atom
저자
  • 이덕원 | Lee, Doek-Won
  • 양준모 | 양준모
  • 박태수 | 박태수
  • 김남경 | 김남경
  • 염승진 | 염승진
  • 박주철 | 박주철
  • 이순영 | 이순영
  • 박성욱 | 박성욱
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이덕원, 양준모, 박태수, 김남경, 염승진, 박주철, 이순영, 박성욱. (2003). 고분해능 전자현미경법을 이용한 (Bi, La)4Ti3O12 박막의 결정학적 특성 평가. 한국재료학회지, 13(7), 478-483.

Lee, Doek-Won, Yang, Jun-Mo, Park, Tae-Su, Kim, Nam-Kyung, Yeom, Seung-Jin, Park, Ju-Chul, Lee, Soun-Young, Park, Sung-Wook. (2003). Crystallographic Characterization of the (Bi, La)4Ti3O12 Film by High-Resolution Electron Microscopy. Korean Journal of Materials Research, 13(7), 478-483.

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