논문 상세보기

나노인덴테이션과 주사탐침현미경을 이용한 박막 재료의 특성평가 KCI 등재 SCOPUS

Characterization of Thin Film Materials by Nanoindentation and Scanning Probe Microscopy

김봉섭, 윤존도, 김종국
  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/296215
구독 기관 인증 시 무료 이용이 가능합니다. 4,000원
한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)
제13권 제9호 (2003.09)
pp.606-612
한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)
키워드
nanoindentationscanning probe microscopyhardnesselastic modulusthin film
저자
  • 김봉섭 | Kim, Bong-seob
  • 윤존도 | 윤존도
  • 김종국 | 김종국
인용하기
양식 선택

김봉섭, 윤존도, 김종국. (2003). 나노인덴테이션과 주사탐침현미경을 이용한 박막 재료의 특성평가. 한국재료학회지, 13(9), 606-612.

Kim, Bong-seob, Yun, Jon-do, Kim, Jong-kuk. (2003). Characterization of Thin Film Materials by Nanoindentation and Scanning Probe Microscopy. Korean Journal of Materials Research, 13(9), 606-612.

언어 선택
로그인