IP:18.226.222.76
홈
기관인증
개인로그인
회원가입
고객센터
이용안내
메뉴
메뉴 닫기
기관로그인
기관이 구독한 논문을
무료로 이용하세요.
개인로그인
회원가입
검색
발행기관
간행물
상세검색
고객센터
이용안내
결과 내 재검색
검색
발행기관 찾기
간행물 찾기
상세검색
논문 상세보기
북마크
원자층 증착법으로 성장한 HfO2 박막의 제조
KCI 등재
SCOPUS
Preparation of Hafnium Oxide Thin Films grown by Atomic Layer Deposition
김희철
,
김민완
,
김형수
,
김혁종
,
손우근
,
정봉교
,
김석환
,
이상우
,
최병호
언어
KOR
URL
https://db.koreascholar.com/Article/Detail/296454
구독 기관 인증 시 무료 이용이 가능합니다.
4,000원
구매하기
인용하기
한국재료학회지
(Korean Journal of Materials Research)
제15권 제4호 (2005.04)
pp.275-280
한국재료학회
(Materials Research Society Of Korea)
facebook
twitter
키워드
ALD
Atomic Layer Deposion
hafnium oxide
dielectric constant
저자
김희철 | Kim, Hie-Chul
김민완 | 김민완
김형수 | 김형수
김혁종 | 김혁종
손우근 | 손우근
정봉교 | 정봉교
김석환 | 김석환
이상우 | 이상우
최병호 | 최병호
같은 권호 다른 논문
[한국재료학회지 제15권 제4호] 페이지로 이동
인용하기
닫기
양식 선택
APA
Chicago(각주)
Chicago(내주)
Vancouver
MLA
IEEE
Harvard
ACS
NLM
AMA
언어 선택
국문
영문
EndNote (RIS)
EndNote (ENW)
Refworks
Scholar's Aid
BibTex
Mendeley
Excel
로그인
닫기
기관인증 또는 개인회원 로그인 후 무료이용 가능합니다.
기관인증
개인회원 로그인