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SOI 기술의 이해와 고찰: 소자 특성 및 공정, 웨이퍼 제조 KCI 등재 SCOPUS

Basic Issues in SOI Technology : Device Properties and Processes and Wafer Fabrication

  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/296510
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한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)
한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)
저자
  • 최광수 | Choe, Kwang-Su