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Gd2O2S：Tb의 동시 계수 도플러 양전자 소멸법에 의한 결함 특성 KCI 등재 SCOPUS

Defect Analysis of Gd2O2S : Tb Using Coincidence Doppler Broadening Positron Annihilation Spectroscopy

이종용, 배석환, 김재홍, 권준현
  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/296625
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한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)
제16권 제7호 (2006.07)
pp.455-459
한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)
키워드
CoincidencePositronGd2O2S:TbdefectS-parameter
저자
  • 이종용 | Lee, C.Y.
  • 배석환 | 배석환
  • 김재홍 | 김재홍
  • 권준현 | 권준현
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이종용, 배석환, 김재홍, 권준현. (2006). Gd2O2S：Tb의 동시 계수 도플러 양전자 소멸법에 의한 결함 특성. 한국재료학회지, 16(7), 455-459.

Lee, C.Y., Bae, S.H., Kim, J.H., Kwon, J.H.. (2006). Defect Analysis of Gd2O2S : Tb Using Coincidence Doppler Broadening Positron Annihilation Spectroscopy. Korean Journal of Materials Research, 16(7), 455-459.

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