기술의 발달과 고객의 다양한 요구에 의해 제품은 점점 다양해지고 또한 복잡해지고 있다. 이에 따라 제품에 대한 여러 가지 변수를 동시에 고려해야 한다. 따라서 각 제조불량에 대해 그에 대응하는 Demerit를 설정하여 관리하는 Demerit관리도가 고안되었다. 본 연구는 불량이나 결점이 여러 가지 형태에 의해 발생되는 공정에 대해 기존의 Demerit approach를 확률적으로 접근 및 해석함으로써 이상신호가 발생하였을 경우 공정의 이상원인을 빨리 찾을 수 있도록 이상신호에 대한 쉽고 정확한 해석방법을 제시하고자 한다.

Abstract
 1. 서론
 2. Demerit system
  2.1 Demerit 관리도
  2.2 Mixed Binominal distribution
 3. Demerit System의 확률적 해석
  3.1 가정 및 기호정의
  3.2 기호정의
  3.3 Demerit system의 확률적 해석접근방법
 4. 결론 및 추후연구과제
 참고문헌

• 오종민(한양대학교 산업공학과)
• 강창욱(한양대학교 정보경영공학)