In this paper, we studied a p-type reflector based on indium tin oxide (ITO) for vertical-type ultraviolet light-emitting diodes (UV LEDs). We investigated the reflectance properties with different deposition methods. An ITO layer with a thickness of 50 nm was deposited by two different methods, sputtering and e-beam evaporation. From the measurement of the optical reflection, we obtained 70% reflectance at a wavelength of 382 nm by means of sputtering, while only 30% reflectance resulted when using the e-beam evaporation method. Also, the light output power of a 1mm×1mm vertical chip created with the sputtering method recorded a twofold increase over a chip created with e-beam evaporation method. From the measurement of the root mean square (RMS), we obtained a RMS value 1.3 nm for the ITO layer using the sputtering method, while this value was 5.6 nm for the ITO layer when using the e-beam evaporation method. These decreases in the reflectance and light output power when using the e-beam evaporation method are thought to stem from the rough surface morphology of the ITO layer, which leads to diffused reflection and the absorption of light. However, the turn-on voltage and operation voltage of the two samples showed identical results of 2.42 V and 3.5 V, respectively. Given these results, we conclude that the two ITO layers created by different deposition methods showed no differences in the electric properties of the ohmic contact and series resistance.

본 연구는 다문화 관련 직무 종사자의 제도화된 인종주의가 종사자의 문화적 역량과 직 무스트레스에 미치는 영향에 대해 살펴보려는 목적을 가진다. 분석결과, 제도화된 인종주의 가 문화적 역량에는 부적(-)으로, 직무스트레스에는 정적(+) 영향을 미치는 것으로 나타나, 문화적 역량 증진 방안 모색과 실천서비스의 질적 향상, 종사자들의 정신건강을 위해 제도 화된 인종주의에 대한 논의가 필요한 것으로 나타났다. 따라서, 다문화 관련 직무 종사자의 문화적 역량 강화 교육 및 각종 훈련프로그램 등에 제도화된 인종주의 개념이 추가될 필요 가 있으며, 보이지 않는 차별이 가해지고 있는 다문화주의에 대한 비판적 고민과 함께 제 도화된 인종주의의 개선방법에 대한 관심과 논의가 필요하다.