PECVD방법으로 형성한 W67N33/GaAs구조의 열적 특성

이세정; 홍종성; 이창우; 이종무; 김용태; 민석기

논문 상세보기

PECVD방법으로 형성한 W67N33/GaAs구조의 열적 특성 KCI 등재 SCOPUS

Thermal characteristics of W67N33/GaAs structure

이세정, 홍종성, 이창우, 이종무, 김용태, 민석기

언어KOR
URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/294689

구독 기관 인증 시 무료 이용이 가능합니다. 4,000원

한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)

제3권 제5호 (1993.10)
pp.443-450

한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)

초록

실리콘이 주입된 CaAs 기판위에 플라즈마 화학 증착법으로 자기정렬 gate구조의 Schottky contact을 형성하였다. 갈륨비소 소자 제조를 위하여 두께 1600Å의 턴스텐질화막을 350˚C에서 증착하여 750˚C에서 900˚C까지 급속 열처리 하였다. 텅스텐 질화막과 GaAs계면의 열적 안정성을 XRD(X-ray diffraction), PL(photoluminescence),ODLTS(optical deep livel transient spectroscopy)측정으로 조사하였으며, W보다 W67N33 gate를 형성시킬 경우에 GaAs에 미치는 열적손상이 적음을 알 수 있으며 이온 주입한 Si이온이 활성화 되는 것으로 생각된다. W67N33 GaAs 다이오드가 약 800-900˚C의 고온열처리 온도에서 W/GaAs 다이오드의 경우보다 열적 안정성이 우수하였다.

저자

이세정 | Lee, Se-Jeong
홍종성 | 홍종성
이창우 | 이창우
이종무 | 이종무
김용태 | 김용태
민석기 | 민석기

같은 권호 다른 논문