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VCR 헤드 제조시 SiO2박막과 유리의 계면 결함 KCI 등재 SCOPUS

Interfacial Defects in SiO2-Glass Bond During VCR Head Fabrication

  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/294721
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한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)
한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)
초록

Mn-Zn ferrite를 가공하여 VCR헤드의 제조과정에서 비자성체 gap용 SiO2증착층과 유리와의 접합시 유리내에 기포 형태의 결함이 발생하는 경우가 있다. 기판의 조도나 SiO2의 증착속도의 영향을 분석한 결과, 기포의 생성원인이 SiO2 증착층과 접합유리의 융착시 계면에 존재하는 요철의 불완전한 충진에 의한 것으로 나타났다. 따라서 이러한 기포생성을 억제시키는 위해서는 기판을 최대한 경면 연마시켜 표면조도를 작게하고 SiO2증착속도를 조절함으로써 SiO2증착층의 표면조도를 작게하여 유리 융착시 계변의 요철 크기를 작게해야 한다. 기판을 0.05μm알루미나 분말로 경면연마시키고, 10% Osub 2/분압을 갖는 Ar plasma상태하로 조절된 증착속도로 즈악된 SiO2증착층과 접합유리의 융착시 기포가 전혀 발생치 않았다.

저자
  • 윤능구 | Yun, Neung-Gu
  • 황재웅 | 황재웅
  • 고경현 | 고경현
  • 안재환 | 안재환
  • 제해준 | 제해준
  • 홍국선 | 홍국선