본 연구는 국가 및 지역 공공기관에서 연구 개발 지원을 위한 기술 중요도 평가시 SOM 신경망 분석을 통해 합리적으로 평가할 수 있는 방법을 제시하였다. 본 연구에서 제시한 방법을 나노소재분야의 기술에 시험적으로 적용하여 적용 타당성을 확인하였다. 타당성 분석결과 SOM 신경망 분석을 통해 우선적으로 개발이 필요한 유사기술로 이루어진 기술군을 도출하였고 여러개의 기술군간 비교를 통해 기술간의 관계를 유추할 수 있는 보다 나은 기술중요도 평가 정보를 얻을 수 있었다.

Abstract
 1. 서론
 2. 관련 연구
  2.1 계층분석방법(Analytical Hierarchy Process)
  2.2 델파이(Delphi)
  2.3 자기조직화신경망 (SOM Neural Network)
 3. 자기조직화신경망분석에 기반한 기술중요도 평가 방법론
 4. 나노소재 분야 기술에의 적용사례
 5. 결론 및 향후 연구
 참고문헌

• 이장희(한국기술교육대학교 산업경영학부)