Cross-sectional TEM Specimens Priparation of Precisely Selected Regions of Semiconductor Devices using Focused Ion Beam Milling - koreascholar

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Cross-sectional TEM Specimens Priparation of Precisely Selected Regions of Semiconductor Devices using Focused Ion Beam Milling KCI 등재 SCOPUS

김정태, 김호정, 조윤성, 최수한

언어KOR
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한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)

제3권 제2호 (1993.04)
pp.193-196

한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)

저자

김정태 | Kim, Jeong-Tae
김호정 | 김호정
조윤성 | 조윤성
최수한 | 최수한

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