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SoI-Gel법에 의한 Pb(Zr, Ti)O3박막의 강유전체 특성 KCI 등재 SCOPUS

Ferroelectric Properties of Sol-Gel Derived pb(Zr,Ti)O3Thin Films

  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/295184
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한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)
한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)
초록

Sol-gel법으로 제작한 여러 종류의 Zr/Ti비율을 갖고 있는 PZT박막의 전지적 특성과 신뢰성 특성을 상부 백금 전극을 sputtering으로 증착하고 Ar 기체로 반응성 이온 식각(RIE)방법으로 패턴을 형성한 후 열처리온도의 변화에 따라 조사하였다. Hysteresis loop특성을 되찾게 하였다. Zr/Ti 비율이 감소함에 따라 voltage shift가 증가하였으며 internal field가 없어지는 열처리 온도가 증가하였다. Zr/Ti비율이 감소함에 따라 초기 잔류 분극은 증가하였으나 switching 횟수가 증가됨에 따라 잔류 분극이 급속히 감소하였다.

저자
  • 고가연 | Go, Ga-Yeon
  • 이은구 | 이은구
  • 박진성 | 박진성
  • 이종국 | 이종국
  • 이우선 | 이우선
  • 이재갑 | 이재갑