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(hfac)Cu(1,5-DMCOD) 전구체를 이용한 MOCVD Cu 증착 특성에 미치는 환원기체와 첨가제의 영향에 관한 연구 KCI 등재 SCOPUS

Reduction Gas and Chemical Additive Effects on the MOCVD Copper Films Deposited From (hfac)Cu(1,5-DMCOD) as a Precursor

  • 언어KOR
  • URLhttps://db.koreascholar.com/Article/Detail/295789
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한국재료학회지 (Korean Journal of Materials Research)
한국재료학회 (Materials Research Society Of Korea)
초록

(hfac)Cu(1, 5-DMCOD)(1, 1, 1, 5, 5, 5-Hexafluoro-2, 4-pentanedionato Cu(I) 1, 5-dimethyl-cyclooctadine) 전구체와 He 운반기체를 이용하여 MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition) 방법으로 Cu 박막을 형성하였으며, He 운반기체와 함께 H2 gas 및 H(hfac) Ligand의 첨가가 Cu 박막 형성에 미치는 영향에 대하여 조사하였다. He운반기체만을 사용한 경우, Cu 박막의 증착율은 기판온도 180~230˚C에서 20~125Å/min 정도로 낮은 값을 보였으며, 특히 기판온도 190˚C에서는 매우 얇은 두께 (700Å)이면서 낮은 비저항(2.8μΩcm)을 갖는 Cu 박막이 형성됨을 알 수 있었다 He 운반기체와 함께 환원가스(H2) 및 화학첨가제 (H (hfac) ligand)의 첨가 실험에서는 낮은 기판온도 (180~190˚C) 구간에서 현저하게 증착율이 증가하였으며 얇은 두께 (~500Å)의 Cu 박막이 낮은 비저항(3.6~2.86μΩcm)을 갖는 것으로 나타났다. 또한 얇은 두께의 MOCVD Cu박막들의 표면 반사도(reflectance)는 300˚C에서 열처리한 sputter Cu의 반사도에 근접하는 우수한 surface morphology를 보였다 결국, (hfac)Cu(1,6-DMCOD) 전구체를 이용하여 얻어진 MOCVD Cu박막은 얇은 두께에서 낮은 비저항을 갖는 우수한 막질을 보였으며, Electrochemical deposition공정에서 conformal seed layer로써의 적용이 가능할 것으로 기대된다.

저자
  • 변인재 | Byeon, In-Jae
  • 서범석 | 서범석
  • 양희정 | 양희정
  • 이원희 | 이원희
  • 이재갑 | 이재갑