본 연구는 델파이 방법을 적용하여 전문가의 의견을 수렴하여 국가의 기술 및 연구개발 정책을 결정할 때 델파이 방법의 단점인 전문가의 합의된 의견이 틀리는 부분을 보완해서 검증할 수 있는 방안을 제시한다 본 연구에서 제안한 방법은 . 델파이 방법을 사용하여 기술 예측을 하는 경우 특허 문서와 같은 대상 기술 분야의 기술에 대한 분석을 수행하여 두가지 방법을 통해 나온 결과를 상호 비교 분석하여 델파이 방법의 결과의 타당성을 검증토록 한다.

Abstract
 1. 서론
 2. 관련 연구
  2.1 델파이(Delphi)
  2.2 계층분석방법(Analytical Hierarchy Process)
  2.3 특허 분석법(Patent Map)
 3. 델파이와 특허분석에 기반한 기술 예측 오류 감소 방법론
  3.1 델파이와 AHP의 적용을 통한 대상 기술 분석
  3.2 특허 내용 분석
 4. 결론 및 향후 연구
 참고문헌

• 이장희(한국기술교육대학교 산업경영학부)