반사형 테라헤르츠 시스템의 시간 영역 분광을 이용하여 테라헤르츠 time-of-flight 단층 촬영이 시도되었다. 표면이 균일한 샘플일 경우, 동일한 시간 지연에 대한 2차원 평면 단층 영상을 얻을 수 있다. 한 픽셀에서의 최고점의 시간 인덱스로 구성한 2차원 깊이 영상과 다층 구조 팬텀 실험을 통해, 시간 인덱스가 깊이를 나타낼 수 있음을 확인하였다. 집적 회로 칩의 단층 영상을 획득하여 비파괴 검사의 가능성을 보였다. 후처리 과정으로는 STFT(Shot-time Fourier transform)을 이용하였다.

Bi-Sr-Ca-Cu-O 계에서 상형성에 관해 연구하였다. 임계온도가 80K인 초전도체는 Bi-Sr-Ca-Cu의 몰비율이 2:2:1:2의 성분으로부터 solid state synthesis의 방법으로 합성하였다. 이때 이상에 대한 x-ray diffraction pattern은 모두 색인하였다. 2:2:1를 기본으로한 solid solution의 형성을 Bi2Sr2-xCa1+yCu2O8+δ으로 단일상(single phase)을 형성하고 있으며, 이때 x와 y의 범위는 0<x<0.3 그리고 0<y<0.3이다. 높은 임계온도의 초전도체상(2223)은 BiSrCaCu2Ox의 조성식으로부터 거의 순수한 상을 합성하였다. 이 상에 대한 합성조건은 특별히 구조상의 긴영역의 확산과 아울러 매우 좁은 온도영역의 안정성 때문에 매우 까다롭다. 이 실험의 결과 105K초전도체상은 오직 Cu의 양이 많은 조성으로부터만 형성되었고, 105K로 전이시 긴 저항꼬리가 있는 점으로 보아 grain boundaries 에서의 불순물로 추정된다.