The latest issue is the smart factory. In order to implement this smart factory, the most fundamental element is to establish product specifications for factors affecting the product, obtain useful data to analyzed and predicted, and maintain safety. But most manufacturers have many errors. Therefore, the purpose of this study is to verify factors of product through statistical techniques and to study the process control and safety.

지난 몇 십년동안 전 세계적으로 제조기술 분야의 급속한 성장으로 대부분의 제조 업에서 눈부실만한 품질향상과 생산성 극대화를 이루어 왔다. 하지만 현재 제조기술 분야는 새로운 문제에 직면하고 있다. 실제 현장에서 관리하고자하는 품질특성은 정규 분포를 따르지 않는 경우가 많은데, 대부분의 통계적 공정관리기술체계가 정규분포를 기반으로 하고 있다는 것이다. 또한 기존의 불량률 관리도로는 PPM/PPB 수준의 극소 불량률을 관리하는데 한계가 있다. 이러한 이유로 비정규 공정에서 극소불량관리, 미 세변동관리에 대한 연구가 시급한 실정이다. 본 논문에서는 비정규 공정에서 극소 불량률을 관리하기 위해서   통계량에 Burr 분포를 적용하는 방법을 제안하고자 한다.

지난 몇 십년동안 전 세계적으로 제조기술 분야의 급속한 성장으로 대부분의 제조 업에서 눈부실만한 품질향상과 생산성 극대화를 이루어 왔다. 하지만 현재 제조기술 분야는 새로운 문제에 직면하고 있다. 실제 현장에서 관리하고자하는 품질특성은 정규 분포를 따르지 않는 경우가 많은데, 대부분의 통계적 공정관리기술체계가 정규분포를 기반으로 하고 있다는 것이다. 이러한 이유로 비정규 공정에서 극소불량관리, 미세변 동관리에 대한 연구가 시급한 실정이다. 본 논문에서는 비정규 공정에서 불량률을 관리하기 위해 다양한 비정규 분포를 대 표할 수 있는 Burr 분포를 선택하여 적용방법을 제안하고자 한다.

지난 몇 십년동안 전 세계적으로 제조기술 분야의 급속한 성장으로 대부분의 제조 업에서 눈부실만한 품질향상과 생산성 극대화를 이루어 왔다. 하지만 현재 제조기술 분야는 새로운 문제에 직면하고 있다. 실제 현장에서 관리하고자하는 품질특성은 정규 분포를 따르지 않는 경우가 많은데, 대부분의 통계적 공정관리기술체계가 정규분포를 기반으로 하고 있다는 것이다. 이러한 이유로 비정규 공정에서 극소불량관리, 미세변 동관리에 대한 연구가 시급한 실정이다. 본 논문에서는 비정규 공정에서 불량률을 관리하기 위해 누적합 관리도와 다양한 비정규 분포를 대표할 수 있는 Burr 분포를 선택하여 적용방법을 모색한다.

지난 몇 십년동안 전 세계적으로 제조기술 분야의 급속한 성장으로 대부분의 제조업에서 눈부실만한 품질향상과 생산성 극대화를 이루어 왔다. 하지만 현재 제조기술 분야는 새로운 문제에 직면하고 있다. 실제 현장에서 관리하고자하는 품질특성은 정규분포를 따르지 않는 경우가 많은데, 대부분의 통계적 공정관리기술체계가 정규분포를 기반으로 하고 있다는 것이다. 이러한 이유로 비정규 공정에서 극소불량관리, 미세변동관리에 대한 연구가 시급한 실정이다. 하지만 비정규 분포를 통계적으로만 해석하고 설계하기 위해서는 현실적으로 한계가 있으며, 경제적 설계의 접근방법이 또 하나의 좋은 대안이 될 수 있다. 본 논문에서는 비정규 공정에서 관리도의 경제적 설계를 위한 연구동향을 살펴보고 추후 연구방향에 대해 제시하고자 한다.

제조공정에서 사용되어 지는 SPC(Statistical Process Control)관리 기법은 가피원인을 탐지하여 변동을 감소시키는 통계적 공정관리 시스템이다. SPC의 대표적인 관리 기법으로는 Shewhart관리도, Cusum관리도, EWMA관리도가 있으며 이러한 관리 기법들은 공정을 보다 안정적으로 관리 할 수 있도록 유지 및 예측하는데 사용 되어 진다. 하지만 제조 공정의 유형에 따라 샘플링 방법, 관리한계선 등을 다양하게 설정하여 보다 효율적인 관리를 모색하고 있다. 공정 형태에 따라 다양한 관리 방법과 분석 결과가 나타난다. 일반적으로 Xbar-R 관리도와 같은 Shewhart 관리도를 사용하지만 Batch 단위의 공정, 연속 공정의 라인에서 사용되기에는 부분적인 한계를 보이고 있다. 본 논문에서는 일반적인 관리도와 공정 변화에 민감하게 반응 할 수 있는 누적합 관리도와 지수가중치이동평균 관리도를 비교해 보고 작은 변동에 대한 탐지 능력이 우수한 지수가중치이동평균 관리도에 대한 연구동향과 사례를 분석하여 제조 공정에 적합한 관리 방법을 모색하고자 한다.

Control chart is most widely used in SPC(Statistical Process Control), Recently it is a critical issue that the standard control chart is not suitable to non-normal process with very small percent defective. Especially, this problem causes serious errors in the reliability procurement, such as semiconductor, high-precision machining and chemical process etc. Procuring process control technique for non-normal process with very small percent defective and perturbation is becoming urgent. Control chart technique in non-normal distribution become very important issue. In this paper, we investigate on research trend of control charts under non-normal distribution.

제조공정에서 사용되어 지는 SPC(Statistical Process Control)관리 기법은 가피원인 을 탐지하여 변동을 감소시키는 통계적 공정관리 시스템이다. SPC의 대표적인 관리 기법으로는 Shewhart관리도, Cusum관리도, EWMA관리도가 있으며 이러한 관리 기법 들은 공정을 보다 안정적으로 관리 할 수 있도록 유지 및 예측하는데 사용 되어 진다. 본 논문에서는 일반적으로 사용되어 지는 Shewhart관리도와 공정 예측에 유리한 EWMA 관리도에 대해 연구해보고 공정변화에 민감하게 반응하는 EWMA 관리도의 적용 사례를 제시하고자 한다.

In the manufacturing process the most widely used x chart has been applied to control the process mean. Also, Accelerated Life Test(ALT) is commonly used for efficient assurance of product life in development phases, which can be applied in production reliability acceptance test. When life data has lognormal distribution, through censored ALT design so that censored ALT data has asymptotic normal distribution, ALTx control chart integrating x chart and ALT procedure could be applied to control the mean of process in the manufacturing process. In the situation that process variation is controlled, Zp control chart is an effective method for the very small fraction nonconforming of quality characteristic. A simultaneous control scheme with ALTx control chart and Zp control chart is designed for the very small fraction nonconforming of product lifetime.

The research develops the calculation steps of Z sigma level, process capability index(PCI) and process performance index(PPI) applicable to the discrete process in the service industry. The paper presents three following topics used related process indexes according to the precision and accuray in the continuous process. The contents include diverse process indexs for nonconformities by SPC attribute control charts and bias coefficient. The same technique of the nonconformites is also used in the nonconforming units. The practical examples are provided to help easier understanding for users.

This paper seeks to Combination for Efficient Application of SPC/EPC minimize variability by transferring the output variable to a related process controllable variable, while SPC seeks to reduce variability by detecting and eliminating assignable causes of variation. In the case of product control, a very reasonable objective is to try to minimize the variance of the output deviations from the target or set point. We consider an alternative EPC model with autoregressed disturbance. We compare three control systems; EPC, Cp, SPC combined system with EWMA, CUSUM and Shewhart. This paper shows through simulation that the performance of the integrated model of EPC and SPC, Cp is more preferable than that of EPC.

This paper proposes service layout strategy considering service characteristics by the use of benchmarking production system such as layout by P-Q chart, improvement tool, automated system, Toyota production system and lean production system. This paper represents operation methodology of statistical process control using control chart for service performance outcomes.

By analysis of the processes before and after applying RFID in warehouse management and the improvement the RFID system brings to warehouse management based on model of warehouse management in manufacture enterprises, a set of standard process after applying RFID system in SCM members at different phases is designed in this paper.