ITO 투명 전극 필름은 디스플레이, 전기 자동차 등 산업 전 범위에서 널리 사용되는 전자 재료이다. 본 연구에서는 이러한 indium tin oxide (ITO) 필름의 열성형 안정성을 향상시키기 위하여 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate) (PEDOT:PSS) 전도성 고분자 코팅 용액 조성을 결정하였다. 1000 S/cm의 고 전도성을 보이는 PEDOT:PSS 용액에 끓는점이 각기 다른 4가지 종류의 용매를 희석하였고, 코팅 전 후 면저항 변화를 분석하였다. 또한 380~800 nm 영역의 광 투과율 분 석 및 Raman 스펙트럼 분석을 통하여 PEDOT:PSS 박막이 코팅된 ITO 투명 전극의 전기적 특성 결정 메커니즘을 규명하였 다. 230°C 열성형 공정 결과 ITO 필름은 113% 연신 상태에서 이미 전기 전도성을 읽었지만, ethylene glycol을 희석 용매로 사용하여 얻어진 전도성 고분자 박막이 적용된 ITO 필름은 126% 고 연신 상태에서도 초기 60 Ω/sq 면저항을 246 Ω/sq로 유지하는 우수한 전기 전도성을 보였다.

Silver nanowire (AgNW) networks have been adopted as a front electrode in Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) thin film solar cells due to their low cost and compatibility with the solution process. When an AgNW network is applied to a CIGS thin film solar cell, reflection loss can increase because the CdS layer, with a relatively high refractive index (n ~ 2.5 at 550 nm), is exposed to air. To resolve the issue, we apply solution-processed ZnO nanorods to the AgNW network as an anti-reflective coating. To obtain high performance of the optical and electrical properties of the ZnO nanorod and AgNW network composite, we optimize the process parameters – the spin coating of AgNWs and the concentration of zinc nitrate and hexamethylene tetramine (HMT – to fabricate ZnO nanorods. We verify that 10 mM of zinc nitrate and HMT show the lowest reflectance and 10% cell efficiency increase when applied to CIGS thin film solar cells.

리튬금속전지(LMB)는 매우 큰 이론 용량을 갖지만 단락(short circuit), 수명 감소 등을 야기하는 덴드라이트(dendrite) 가 형성되는 큰 문제점을 갖고 있다. 본 연구에서는 poly(dimethylsiloxane) (PDMS)에 graphene oxide (GO) nanosheet를 고르게 분산시킨 PDMS/GO 복합체를 합성하였고 이를 박막 형태로 코팅하여 덴드라이트의 형성을 물리적으로 억제할 수 있는 막의 효과를 이끌어내었다. PDMS의 경우, 그 자체로는 이온 전도체가 아니기 때문에 리튬 이온의 통로를 형성시켜 리튬 이온의 이동을 원활하게 하기 위하여 5wt% 불산(HF)으로 에칭하여 PDMS/GO 박막이 이온전도성을 가질 수 있도록 하였다. 주사전자현미경(scanning electron microscopy, SEM)을 통해 전면 및 단면을 관찰하여 PDMS/GO 박막의 형상을 확인하였다. 그리고 PDMS/GO 박막을 리튬금속전지에 적용하여 실시한 배터리 테스트 결과, 100번째 사이클까지 쿨롱 효율(columbic efficiency) 이 평균 87.4%로 유지되었고, 박막이 코팅되지 않은 구리 전극보다 과전압이 감소되었음을 전압 구배(voltage profile) 를 통해 확인하였다.

The power capacitors used as vehicle inverters must have a small size, high capacitance, high voltage, fast response and wide operating temperature. Our thin film capacitor was fabricated by alumina layers as a dielectric material and a metal electrode instead of a liquid electrolyte in an aluminum electrolytic capacitor. We analyzed the micro structures and the electrical properties of the thin film capacitors fabricated by nano-channel alumina and metal electrodes. The metal electrode was filled into the alumina nano-channel by electroless nickel plating with polyethylene glycol and a palladium catalyst. The spherical metals were formed inside the alumina nano pores. The breakdown voltage and leakage current increased by the chemical reaction of the alumina layer and PdCl2 solution. The thickness of the electroless plated nickel layer was 300 nm. We observed the nano pores in the interface between the alumina layer and the metal electrode. The alumina capacitors with nickel electrodes had a capacitance density of 100 nF/cm2, dielectric loss of 0.01, breakdown voltage of 0.7MV/cm and leakage current of 104μA.

We have investigated the structural and electrical properties of Ga-doped ZnO (GZO) thin films deposited by anRF magnetron sputtering at various RF powers from 50 to 90W. All the GZO thin films are grown as a hexagonal wurtzitephase with highly c-axis preferred parameters. The structural and electrical properties are strongly related to the RF power. Thegrain size increases as the RF power increases since the columnar growth of GZO thin film is enhanced at an elevated RFpower. This result means that the crystallinity of GZO is improved as the RF power increases. The resistivity of GZO rapidlydecreases as the RF power increases up to 70W and saturates to 90W. In contrast, the electron concentration of GZO increasesas the RF power increases up to 70W and saturates to 90W. GZO thin film shows the lowest resistivity of 2.2×10−4Ωcmand the highest electron concentration of 1.7×1021cm−3 at 90W. The mobility of GZO increases as the RF power increasessince the grain boundary scattering decreases due to the reduced density of the grain boundary at a high RF power. Thetransmittance of GZO thin films in the visible range is above 90%. GZO is a feasible transparent electrode for application asa transparent electrode for thin film solar cells.

We have investigated the structural and optical properties of Ga-doped ZnO (GZO) thin films deposited by RFmagnetron sputtering at various deposition temperatures from 100 to 500oC. All the GZO thin films are grown as a hexagonalwurtzite phase with highly c-axis preferred parameter. The structural and electrical properties are strongly related to depositiontemperature. The grain size increases with the increasing deposition temperature up to 400oC and then decreases at 500oC. Thedependence of grain size on the deposition temperature results from the variation of thermal activation energy. The resistivityof GZO thin film decreases with the increasing deposition temperature up to 300oC and then decreases up to 500oC. GZO thinfilm shows the lowest resistivity of 4.3×10−4Ωcm and highest electron concentration of 1.0×1021cm−3 at 300oC. The mobilityof GZO thin films increases with the increasing deposition temperature up to 400oC and then decreases at 500oC. GZO thinfilm shows the highest resistivity of 14.1cm2/Vs. The transmittance of GZO thin films in the visible range is above 87% atall the deposition temperatures. GZO is a feasible transparent electrode for the application to the transparent electrode of thinfilm solar cells.

Changes in the surface morphology and light scattering of textured Al doped ZnO thin films on glasssubstrates prepared by rf magnetron sputtering were investigated. As-deposited ZnO:Al films show a hightransmittance of above 80% in the visible range and a low electrical resistivity of 4.5×10-4Ω·cm. The surfacemorphology of textured ZnO:Al films are closely dependent on the deposition parameters of heater temperature,working pressure, and etching time in the etching process. The optimized surface morphology with a cratershape is obtained at a heater temperature of 350oC, working pressure of 0.5 mtorr, and etching time of 45seconds. The optical properties of light transmittance, haze, and angular distribution function (ADF) aresignificantly affected by the resulting surface morphologies of textured films. The film surfaces, havinguniformly size-distributed craters, represent good light scattering properties of high haze and ADF values.Compared with commercial Asahi U (SnO2:F) substrates, the suitability of textured ZnO:Al films as frontelectrode material for amorphous silicon thin film solar cells is also estimated with respect to electrical andoptical properties.

Powder library of pseudo four components Li-Ni-Co-Ti compounds were prepared for exploring the composition region with the single phase of the layer-type structure by using combinatorial high-throuput preparation system "M-ist Combi" based on electrostatic spray deposition method. The new layer-type compounds were found wider composition region than the previous report. This process is promising way to find multi component functional materials.

LaMnO3, and gel films were deposited by spin-coating technique on scandium-doped zirconia (YSZ) substrate using the precursor solution prepared from , or ,2-methoxyethanol, and polyethylene glycol. By heat-treating the gel films, the electrochemical cells, were fabricated. The effect of polyethylene glycol on the microstructure evolution of and thin films was investigated, and NOx decomposition characteristics of the electrochemical cells were investigated at to . By applying a direct current to the electrochemical cell, good NOx conversion rate could be obtained relatively at low current value even if excess oxygen is included in the reaction gas mixture.

코발트 산화물 박막을 전극으로 하여 Pt/Ti/Si 기판위에 Co3O4/LiPON/Co3O4로 구성된 전고상의 박막형 슈퍼캐패시터를 제작하였다. 각각의 Co3O4박막은 반응성 dc 마그네트론 스퍼터를 이용하여 O2/[Ar+O2] 비를 증가 시키며 성장시켰고, 비정질 LiPON 고체전해질 박막은 순수한 질소분위기 하에서 rf 스퍼터링으로 성장시켰다. 비록 벌크 타입의 슈퍼캐패시터에 비해 낮은 전기용량 (5-25mF/cm2-μm)을 가졌지만, Co3O4/LiPON/Co3O4 구조로 제작된 전고상 박막형 슈퍼캐패시터는 벌크 타입과 비슷한 거동을 나타내었다 0-2V의 전압구간, 50μA/cm2의 전류밀도에서 약 400사이클 까지 안정한 방전용량을 유지함을 관찰할 수 있었다 이러한 전고상 박막형 슈퍼캐패시터의 전기화학적 특성은 O2/[Ar+O2] 비에 의존하는데, 이러한 의존성을 구조적, 전기적 특성 및 표면특성을 분석하여 설명하였다.

강유전체 재료의 하부전극으로 사용되고 있는 Pt/Ti 박막의 접착력에 대한 열처리 분위기의 영향을 연구하였다. 시편의 접착력은 90˚ 필 테스트 방법을 사용하여 정량적으로 측정하였다. 열처리 후 사용된 분이기에 관계없이 모두 접착력이 감소하였는데 특히 산소분위기에서 열처리 한 시편의 접착력이 매우 크게 감소하였다. AES depth profile과 단면 TEM을 이용하여 계면반응을 관찰한 결과 산소열처리시에는 Ti가 외부에서 확산해 온 산소와 반응하여 rutile TiO2상이 형성됨을 알 수 있었다. 그러므로 산소열처리 후에 일어나는 접착력의 급격한 감소 원인은 열처리시 취약한 TiO2상이 형성되며 이로 인해 Ti 접착층이 고갈되기 때문임을 알 수 있었다.

Ta2O5 박막은 실리콘산화막, 실리콘질화막 박막에 비해 유전율은 높으나 누설전류밀도가 높고, 절연파괴강도가 낮아 DRAM의 커패시터용 재료로서 실용화가 되지 못하고 있다. 본 연구에서는 LPCVD법으로 형성시킨 300Å 두께의 Ta2O5 유전체박막에 대해 후속열처리 또는 전극재료를 변화시켜 열악한 전기적 특성의 원인을 규명하고자 하였다. 그 결과 다결정 실리콘 전극의 경우 성막상태의 Ta2O5 박막은 전극에 의한 환원반응에 의해 전기적 특성이 열화됨을 알 수 있었고, 이를 TiN 전극의 사용으로 억제시킬 수 있었다. 다결정 실리콘 전극의 경우 성막상태의 Ta2O5 유전체는 누설정류밀도가 10-1A/cm2, 절연파괴강도가 1.5MV/cm 정도였으며, 800˚C에서 O2열처리를 하면 전기적 특성은 개선되나, 유전율이 낮아진다 TiN 전극을 채용할 경우 누설전류밀도 10-6~10-7A/cm2, 절연파괴강도 7~12MV/cm 로 ONO(Oxide-Nitride-Oxide) 박막과 비슷한 Ta2O5 고유전막을 얻을 수 있었다.